公司隆重推出新产品

发布日期:2006-3-2

　　为了更好的适应客户的需求,我公司相继推出了半导体激光器特性参数测试仪系列产品——LDT3000、LDT1000 及半导体激光器P-I-V测试仪，以及可广泛应用于光纤跳线、光连接法兰、分路器、合波器等光器件检测的LOS-D0001-H光源。

　　同时根据客户需要，我公司开发的TEC双温控仪已经投入使用；可控升降温速度的半导体温控仪、 LD驱动及双温控电源系统也正在调试过程中。

　　公司目前还代理日本系统技研株式会社的LD、LED、OLED老化测试系统等光电仪器设备。老化台上的试验条件可随时改变 、便于控制，各控制参数设定简易 、操作方便，试验效率高，与PC机相连接也便于对测试结果进行分析，从而改进产品性能 。同时我们也承接LD、LED、OLED等半导体器件老化测试系统的设计与制造。